形貌儀的校準(zhǔn)方法,學(xué)會了嗎?
更新時(shí)間:2021-10-19 點(diǎn)擊次數(shù):906
形貌儀其實(shí)就是三維表面形貌測量設(shè)備,采用白光共聚焦技術(shù),可實(shí)現(xiàn)對材料表面從納米到毫米量級的粗糙度測試,具有測量精度高,速度快,重復(fù)性好的優(yōu)點(diǎn)。該儀器包含一個(gè)手持式光學(xué)測量頭和便攜式電腦,在5mm×5mm范圍內(nèi)對x及y方向各進(jìn)行高達(dá)1500次的測量,從而得出平均數(shù)值及標(biāo)準(zhǔn)偏差。同時(shí),設(shè)備的軟件還可進(jìn)一步評估特定范圍內(nèi)材料表面的性能。該儀器擁有封閉式設(shè)計(jì),因此其測量結(jié)果重復(fù)性和再現(xiàn)性高。
產(chǎn)品原理是采用白光共聚焦色差技術(shù),利用白光點(diǎn)光源,光線經(jīng)過透鏡后產(chǎn)生色差,不同波長的光分開后入射到被測樣品上。位于白光光源的對稱位置上的超靈敏探測器系統(tǒng)用來接收經(jīng)被測點(diǎn)漫反射后的光。根據(jù)準(zhǔn)共聚焦原理,探測器系統(tǒng)只能接收到被測物體上單點(diǎn)反射回來的特定波長的光,從而得到這個(gè)點(diǎn)距離透鏡的垂直距離。再通過點(diǎn)掃描的方式可得到一條線上的坐標(biāo),即X-Z坐標(biāo),以S路徑獲得物體每個(gè)點(diǎn)的三維X-Y-Z坐標(biāo)。將采集的三維坐標(biāo)數(shù)據(jù)交給三維處理軟件進(jìn)行各種表面參數(shù)的分析。
形貌儀的校準(zhǔn)方法:
1、三維形貌校準(zhǔn):這一校準(zhǔn)都和形貌測量的“高度”結(jié)果相關(guān),所以稱為三維校準(zhǔn)。主要包括對干涉物鏡參考面形貌誤差的標(biāo)定;以及使用標(biāo)準(zhǔn)臺階塊對臺階高度測試精度校準(zhǔn)。
2、二維光強(qiáng)校準(zhǔn):這一校準(zhǔn)和成像視場范圍內(nèi)的“光強(qiáng)”信號相關(guān)。設(shè)備有一些功能,可以增強(qiáng)用戶對樣品表面觀察效果。比如在某觀測模式下,可以自動(dòng)去除視場中黑白條紋,更清楚地觀測表面紋理;真彩模式可以復(fù)現(xiàn)表面彩色信息。
由于以上功能相關(guān)標(biāo)定都只涉及“光強(qiáng)”,不涉及到形貌高度,所以稱為二維光強(qiáng)校準(zhǔn)。
3、橫向校準(zhǔn):形貌儀這一校準(zhǔn)是為了標(biāo)定在當(dāng)前設(shè)置下,每個(gè)像素在橫向上代表的尺寸大小。